مقدمه ای بر پراش اشعه ایکس

دستگاه پراش  اشعه ی ایکس (XRD) از 3 بخش تشکیل شده است:

   1- منبع تولید اشعه ی  x 
   2- نگهدارنده نمونه 
   3- آشکار ساز

نحوه تولید اشعه x
پرتو ایکس (x) درسال 1895 به وسیله رونتگن فیزیکدان آلمانی کشف شد و به دلیل این که ماهیت آن ناشناخته بود به این نام خوانده شد.

برای تولید اشعه ایکس از لامپ مولد اشعه ی ایکس استفاده می شود. لامپ اشعه ی ایکس شامل آند و کاتد است که دریک محفظه ی خلا قرار دارد و می تواند اشعه مورد نیاز را تامین کند. اشعه ی ایکس تابش الکترومغناطیسی با انرژی در محدوده ی 100 الکترو ولت تا 100 کیلو الکتروولت است،

این اشعه می تواند به عمق ماده نفوذ کند و اطلاعاتی از بالک ماده نشان دهد. در زمینه های کاربردی مختلف از پراش پرتو ایکس با طول موج در محدوده ی 1-3 انگسترم استفاده می شود. 

نحوه تشکیل طیف xrd:
نمونه مورد نظر یک ترکیب معدنی یا پلیمر است، اگر نمونه پودری باشد معمولا بین 5-3 گرم از ماده استفاده می شود و هم چنین نمونه می تواند به صورت یک فیلم نازک باشد در هرصورت نمونه مورد نظر را در محل خود گذاشته، پس از برخورد پرتو X به الکترون های ماده، باعث نوسان اتم ها و تابش پرتو X به اطراف می شود. اگر پرتو های پراکنده شده با هم جمع شوند موج برآیند پدید می آید.

دراین حالت طیف مشخصی از اشعه  x  تولید می شود و سپس آشکارساز سیگنال آن را پردازش و به مانیتور منتقل کرده تا نتایج حاصل نمایش داده شود. طیف حاصل از ترکیبات معدنی به خاطر کریتستالینیتی بالا از وضوح بیش تری برخوردار است.

رابطه براگ     
قانون براگ یکی از مهم ترین قوانینی است که برای تفسیر داده های حاصل ازپراش اشعه یx   استفاده می شود. در شکل زیر صفحات بلوری نشان داده شده است، اگر فاصله بین دو صفحه را d در نظر بگیریم کلیه پرتو هایی که به صفحه ی اول برخورد می کند، بدلیل آنکه مسافت یکسانی را طی می کنند همدیگر را تقویت می کنند.

اگراختلاف فاصله پرتو تابیده به لایه دوم و اول را برابر با مضربی از ƛ در نظر بگیریم، مسافت طی شده توسط پرتو منعکس شده از لایه دوم برابربا 2dsinƟ می شود:

n ƛ=2dsinƟ
    sinƟ≤1
    Ɵ زاویه پراکنش 
    d فاصله بین لایه های کریستال 
    ƛ  طول موج اشعه ی )xدر حد انگسترم (
    n=1(ضریب بازتابش)

روش های پراش 
پراش هنگامی ایجاد می شود که قانون براگ d sinθ=nλ2 برقرار باشد. اجرای قانون براگ را می توان به وسیله روش های مختلفی همچون لاوه، بلور دورانی ، پودری و پراش سنجی اعمال کرد که در این مقاله به اختصار به بررسی روش پر کاربرد پودری پرداخته می شود: 

پراش پودری اشعه ایکس 
یکی از روش های متدوال برای مشخصه یابی مواد پراش پودری اشعه ی ایکس می باشد. همان طور که از نام آن پیداست نمونه معمولا به صورت پودر و شامل دانه های خالص از مواد تک بلور می باشد. این روش به طور گسترده برای بررسی ذرات در سوسپانسیون های مایع و جامدات پلی کریستال کاربرد دارد.

موقعیت و شدت قله ها و پیک های حاصل از نمونه برای شناسایی ساختار یا فاز مواد مورد استفاده قرار می گیرند. به عنوان مثال خطوط پراش گرافیت متفاوت از الماس است در حالی که هردو از اتم های کربن ساخته شده اند.

داده های حاصل از پراش پودری را می توان با روش انتقال یا انعکاس جمع آوری نمود. برای نمونه های که به صورت جامد هستند معمولا پراش انعکاسی و برای نمونه های که مایع هستند پراش به صورت انتقال بررسی و آنالیز می شود. 

همان طور که در زیر نشان داده شده است:

در آنالیز تصاویر حاصل از پراش اشعه ایکس با توجه به موقعیت پیک ها ،شدت و پهنا و شکل آن ها اطلاعات مهمی از ساختار مواد را بدست آورد..

نتایج حاصل از آزمونXRD
    تعیین نوع کریستال ها
    شناسایی مواد کریستالی نامعلوم 
    تعیین جهت گیری تک کریستال ها 
    تشخیص نوع سل های واحد موجود در ساختار نمونه و اﻧﺪازهﮔﻴﺮي اﺑﻌﺎد آن
    نسبت میزان فاز کریستال به فاز آمورف برای پلیمرهای نیمه بلورین
    ﺑﺮرﺳﻲ ﻣﻮاد ﻛﺎﻧﻲ ﺑﺎ  ﻻﻳﻪ ﻫﺎي رﻳﺰ ﻣﺎﻧﻨﺪ ﺧﺎك رس 
    اندازه گیری ضخامت، استحکام ودانسیته  فیلم
     اندازه گیری تنش های باقیمانده 

مزایای پراش اشعه x 
    تکنیکی کم هزینه ،پرکاربرد وسریع  دربررسی ساختار ماده 
    روشی غیرمخرب
    آماده سازی نمونه بسیار ساده 

معایب اشعه x
    ماده باید ساختار کریستالی داشته باشد
    رزولوشن و قدرت تفکیک پایین نسبت به پراش الکترونی 
پراش اشعه ایکس ابزاری قوی برای مطالعه ساختار های پلیمری است ، برای اندازه گیری فواصل بزرگتر از مقیاس اتمی از SAXS و WAXD که از خانواده XRD هستند استفاده می شود.
پراکندگی پرتوایکس با زاویه کوچک (SAXS)
با این روش می توان توزیع اندازه ذرات یا پراکنش حفرات در مواد بلوری و درشت مولکول هایی مانند پلیمر را بررسی نمود. الگو های SAXS اطلاعاتی درباره ی سایز کلی و شکل می دهند و هم چنین برای تعیین ساختار های نمونه در ابعاد نانو کاربرد دارند. 
    ذرات در سایز نانو بین 100-1 نانومتر به طرف زوایای کوچک Ɵ پراش می یابند 
    بازه زاویه θ برای  Small حدود 0-5 
پراکندگی پرتوایکس با زاویه بزرگ (WAXS)
اتم ها و فواصل بین اتمی به طرف زاویه های بزرگ پراش یابند، الگوهای WAXS اطلاعاتی از حالت فازی، تقارن کریستال و ساختارهای مولکولی می دهند.
    بازه زاویه θ برای Wide پهن تره. حدود 0-50
کاربرد xrd

آنالیز مواد نانوکامپوزیتی 
از طیف xrd  برای بررسی خواص نانو مواد و کامپوزیت ها استفاده می شود. به عنوان مثال کامپوزیت های تقویت شده با ذرات معدنی رس با توجه به  ساختار لایه ای سیلیکات  با استفاده از این روش می توان اطلاعات خوبی در زمینه فواصل بین لایه ها بدست آورد.

پلیمرها 
با استفاده از پراش اشعه x می توان درصد کریستالینیتی در پلیمرهای شبه کریستالی و میزان جهت گیری ساختاری آن ها را بدلیل حضور زنجیر های بلند ارزیابی نمود که با حصول این اطلاعات می توان به خواص پلیمرها مانند پایداری حرارتی و استحکام مکانیکی دست یافت.

برخلاف جامدات معدنی که ساختاری صد درصد بلورین دارند پلیمرها می توانند به صورت های مختلفی باشند به عنوان مثال ترکیبات با درصد بالای کریستالینیتی، شبه کریستال، میکرو کریستال و آمورف که در هر مورد شکل پیک های مختلفی ظاهر می شود.

بنابراین با توجه به پیک حاصل شده می توان به ساختار ماده پی برد. همان طور که مشاهده می شود، ساختار های کریستالی پیک هایی تیز دارند و هرچه از حالت کریستالی به سمت شبه کریستال و آمورف می رویم با پیک های پهن تری روبرو می شویم.

(الف)                                                                        (ب)

شکل 6- طیف حاصل ازپراش پرتو X
 الف - ترکیبات معدنی ب- پلیمرهای نیمه بلوری  

تعیین درصد کریستالیتی با استفاده از طیف حاصل از xrd
پراش اشعه ی ایکس یک روش ابتدایی برای تعیین درصد کریستالینیتی پلیمرها می باشد. ازآن جا که نمونه های پلیمری از فاز آمورف و کریستال تشکیل شده اند درصد کریستالی مواد به این صورت تعیین می شود.

تعیین درصد کریستالی نمونه های پلیمری  با استفاده از شدت پیک حاصل از  مناطق آمورف وکریستالی 

    I_aشدت پراکنش فاز آمورف
    I_bشدت پراکنش فاز زمینه
    I_cشدت پراکنش فازبلوری
    K=1

در مقاله بعدی به بررسی تخصصی تر این آنالیز پرکاربرد پرداخته می شود.
 

منبع: آریا پلیمر